[대전=이데일리 박진환 기자] 국산화에 성공한 반도체 검사 핵심기술을 해외로 빼돌린 기업 임직원들이 무더기로 검거됐다. 이번 사건은 지식재산처 기술경찰이 해외 기술유출 사범을 구속해 공소청이 기소한 제1호 사건이다.
정연우 지식재산처 차장(가운데)이 14일 정부대전청사 기자실에서 해외 기술유출사건 수사 결과를 브리핑하고 있다. (사진=지식재산처)
지식재산처에 따르면 A씨 등은 2023년 11월부터 올해 2월까지 국내 반도체 관련 기업의 현지 유통을 담당하는 해외 유통기업과 공모해 해외 제조기업을 설립하고, 국내 기업의 반도체 검사 핵심기술 설계도면과 자료를 사용해 제품을 생산하고 이를 해외에 공급한 혐의를 받고 있다.
조사 결과 A씨와 B씨, C씨 등은 해외로 달아난 D(58)씨의 제안으로 기존 연봉의 2배를 받는 조건으로 2023년 11월 해외 기업으로 이직했다. 이들은 국내 기업의 반도체 검사 핵심기술인 프로브카드 기술을 사용해 제작한 시제품을 지난해 12월 해외로 빼돌렸다. 피해를 입은 국내기업은 피의자들의 범행으로 해외 시장을 상실할 경우 연간 400억원의 매출 손실이 발생할 것으로 추산하고 있다.
프로브카드 기술은 반도체 칩의 불량 여부를 웨이퍼 상태에서 검사하는 반도체 검사장비로 미국, 일본 기업 등이 시장을 선점해 온 분야다. 이 기업은 오랜 노력 끝에 국산화에 성공했고, 고대역폭 메모리(HBM) 검사용 장비까지 개발해 국내 및 해외 주요 반도체 대기업에 제품을 공급해 왔다.
기술경찰은 국가정보원으로부터 첩보를 입수해 지난해 7월 수사에 착수했다. 그러나 A씨 등 피의자들이 해외에 체류하고 있어 수사에 어려움을 겪어 왔다. 기술경찰은 국정원과 공조해 이들이 설립한 해외 제조기업이 조달, 설계 등을 위해 국내 공급망을 이용한다는 정황을 포착하고, 올해 7월 국내 설계기업을 압수수색해 피의자들이 사용한 피해기업의 설계도면 및 기술자료를 확보했다.
이어 기술경찰은 압수수색 자료를 정밀 분석해 출처가 지워진 자료가 피해기업의 기술을 바탕으로 작성·변형됐다는 사실을 밝혀냈다. 이에 A씨를 구속기소 의견으로, B씨와 C씨를 불구속기소 의견으로 송치했다. 또 해외에 체류하며 수사를 회피하고 있는 주범 D씨(피해회사 전직 임원)에 대해서는 인터폴 적색수배를 요청했다.
정연우 지식재산처 차장은 “기업의 핵심기술이 국외로 유출되면 돌이킬 수 없기에 기술유출 사범을 검거하는 것도 중요하지만 기술유출을 사전에 차단하는 것이 더욱 중요하다”면서 “철저한 수사로 국외 기술 유출범죄에 엄정히 대응하는 한편 사전유출 차단을 위해 해외 기술유출에 대한 처벌수위 강화 및 범행에 가담한 해외기업도 처벌할 수 있게 제도 개선도 함께 추진해 나가겠다”고 말했다.
